SEM原位单轴力学测试系统——SEM-IUMT系列

SEM原位单轴力学测试系统——SEM-IUMT系列

SEM-IUMT系列SEM专用原位单轴力学测试系统，专为在扫描电镜腔体内开展力学测试而设计，让研究人员能够在微观结构演化的“现场”，同步获取材料的力学响应数据。该系统将力学测试“搬进”SEM腔体，实现微观结构与力学性能的同场、同尺、同时观测——这是传统“先测试、后观察”模式无法替代的能力。

一、让SEM从“观察者”升级为“试验场”

SEM是材料微观结构表征的利器，但传统的SEM分析只能观察材料“已经发生”的结果，无法捕捉材料在受力过程中的实时响应。SEM-IUMT系列的核心突破在于：将力学加载模块与SEM腔体深度集成，在SEM观察下同步完成拉伸、压缩、保载等力学测试，让研究人员在微观结构演化的“现场”获取材料的力学响应数据。

二、专为SEM腔体设计，兼容性强

系统专为扫描电镜腔体环境设计，整机仅约3.5kg，在有限的SEM腔体空间内实现5000N加载能力。SEM-IUMT系列可根据用户的不同SEM型号及载物台尺寸进行定制化适配改造，无需对电镜进行任何结构性改动，即装即用。

三、EBSD友好设计——行业差异化亮点

系统针对EBSD（电子背散射衍射）测试设计了可旋转夹具，可将试样角度调整至70°，满足EBSD标准几何条件。夹具具备自锁功能，可在保载状态下进行长时间的EBSD扫描，获取晶粒取向、Schmid因子、局部取向差（KAM）等信息，直接关联微观织构与宏观力学性能，避免长时间扫描过程中的载荷漂移。这是SEM-IUMT与同类产品相比的核心差异化优势。

四、宽温区扩展能力

系统具备高低温环境模块，选配后可在-150℃至1000℃宽温域范围内开展原位EBSD实验，研究温度对晶体取向、孪晶、相变、热激活位错运动等微观机制的调控机制。

五、高精度数据采集

载荷峰值5000N，载荷分辨率显示值的±0.5%。位移测量范围0~60mm，位移分辨率0.1μm，载荷测量范围0.5%~100%FS，加载速率5μm/s~0.5mm/s。适配金属、高分子、柔性电子、碳纤维复材、3D打印钛合金/不锈钢等多种材料。

特征与好处

                    特征                                                                                     好处

专为SEM腔体设计，整机仅约3.5kg                                               适配主流型号SEM，无需对电镜进行结构性改动，即装即用

可针对不同SEM型号及载物台尺寸定制化适配                               覆盖多种SEM平台，兼容性强，使用灵活

可旋转夹具，角度可调至70°，满足EBSD标准几何条件                       无需反复拆装样品即可实现多角度EBSD采集，大幅提升测试效率

自锁保载功能，维持恒定载荷                                                               避免长时间EBSD扫描过程中的载荷漂移，确保数据准确可靠

选配-150℃至1000℃宽温域模块                                                       研究温度对晶体取向、孪晶、相变等微观机制的调控作用

载荷峰值5000N，位移分辨率0.1μm                                               SEM腔体有限空间内实现5000N高载加载与微米级变形精准捕捉

支持拉伸、压缩、保载、循环加载等多种测试模式                       满足金属、高分子、柔性电子等多材料体系的原位力学测试需求