原位双轴力学测试系统——IBM系列

原位双轴力学测试系统——IBM系列

IBM系列原位双轴力学测试系统，采用双轴对称加载，包括准静态版本和动态疲劳版本，即可进行单轴力学测试，也可进行双轴比例、非比例加载测试，加载模式包括定位移速度和定载荷速度，开发有专用的有限元辅助试样设计app。

一、从“单轴”到“多轴”——让材料测试回归真实工况

材料的真实服役环境极少是简单的单轴受力状态——薄膜在包装过程中承受双向拉伸，血管在搏动中承受多向应力，柔性屏幕在弯折中承受复杂的拉压组合。IBM系列的设计理念正是为了解决这一核心矛盾：让力学测试回归材料的真实工况，实现对材料在多轴应力状态下行为的精准表征。

二、双轴对称加载设计

系统采用双轴对称加载结构，有效保证了加载过程中试样中心区域的位置稳定。可进行双轴/四轴比例、非比例加载测试，也可切换至单轴拉伸/压缩模式，实现一机多用。加载模式包括定位移速度和定载荷速度两种方式，满足不同测试标准和研究需求。

三、专用有限元辅助设计

开发有专用的有限元辅助试样设计app，帮助用户快速完成十字形试样设计与优化，确保试样中心区域应变分布均匀，提高测试数据的有效性和可重复性。

四、多版本配置，适配不同场景

提供桌面版和SEM版两种版本。桌面版适配常规实验室环境下的综合力学测试；SEM版专为扫描电镜腔体设计，可在微观表征的同时进行原位双轴加载测试。

五、原位的意义——不止于“加载”

系统使用方式可搭配SEM、OM、DIC、视频引伸计使用。选配工装包括拉伸、压缩、剪切等夹具，选配环境附件包括高温、低温、腐蚀等环境，适合金属、高分子、柔性电子等材料。DIC视频引伸计的非接触测量优势使其可对水凝胶、薄膜等极易受接触力干扰的样品进行全场应变分析——这是接触式引伸计无法完成的任务。

特征与好处

                                    特征                                                                                                       好处

采用双轴对称加载，支持双轴/四轴比例、非比例加载                                                                        真实模拟材料在多轴复杂应力状态下的服役工况

可切换至单轴拉伸/压缩模式                                                                                                                一机多用，无需为不同测试方法配置多台专用设备

开发有专用的有限元辅助试样设计app                                                                                                快速完成十字形试样设计与优化，提高测试数据有效性

提供桌面版和SEM版两种版本                                                                                                                适配常规实验室和扫描电镜原位测试不同场景

载荷峰值最高可达10kN                                                                                                                        覆盖从柔性电子材料到金属材料的多尺度载荷需求

位移分辨率0.1μm，载荷示值误差≤0.5%FS                                                                                        确保多轴力学测试数据的精准性与可追溯性

选配拉伸、压缩、剪切等夹具及高低温、腐蚀等环境附件                                                                满足从高分子到金属、从常温到极端环境的广泛测试需求

支持搭配SEM、OM、DIC、视频引伸计使用                                                                                        实现力学加载与微观表征的同步进行

可与DIC非接触式全场应变测量联用                                                                                                对水凝胶、薄膜等极易受接触力干扰的样品实现全场应变分析，避免接触式测量误差