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µTS介观尺度测试系统在材料多尺度力学研究中的应用案例

发布日期:2026-08-03
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µTS介观尺度测试系统专为光学显微镜与DIC数字图像相关技术耦合设计,位移分辨率可达25nm,应变场分辨率达到0.01%。该系统拥有超过6个量级的长度尺度,是验证连续介质模型的有效工具。以下为该系统的典型应用案例介绍。

案例一:层合板复合材料多尺度验证

研究目标:

验证层合板复合材料在有限元分析中的连续介质模型假设,理解纤维之间及纤维与基体之间的相互作用。

测试方案:

以层合板复合材料为研究对象,采用µTS系统进行多尺度力学测试,通过DIC技术和优化后的光学显微镜获取材料在力学试验中的全场位移与应变数据。

测试成果:

通过更小尺度的测量,成功将复合材料的连续性质模型化,跳过了多余的试验步骤,加快构件开发速度。多尺度测量帮助研究人员更好地理解纤维之间以及纤维和基体之间的相互作用,揭示了微尺度下材料的相互作用以及破坏机理。

应用价值:

为各向异性材料有限元分析提供多尺度验证手段,从根本上促进材料科学的发展。

案例二:微尺度试样力学测试

研究目标:

在试样数量有限的条件下获取新型材料的高质量力学数据。

测试方案:

针对纳米颗粒增强复合材料等新型材料,由于ASTM标准样件制样成本高昂,难以批量制备。采用µTS结合DIC应变测量技术,在试样数量有限的条件下开展微尺度试样测试。

测试成果:

成功获取微尺度试样的高质量力学数据,有效降低材料开发成本。

应用价值:

为新型材料研发提供了高效的微尺度力学测试方案,大幅降低试验成本。

案例三:单丝拉伸全场应变可视化测试

检测目标:

直径0.2mm单丝试样从弹性变形至断裂失效的全场应变演化。

测试方案:

集成µTS介观尺度测试系统与DIC数字图像相关技术,通过µTS实现精准加载,同步记录试样表面散斑场全过程图像。

测试成果:

实现了单丝拉伸过程的全场位移及全场应变动态可视化,精确捕捉了微丝颈缩演化与局部应变集中区域的微观机制。

应用价值:

为纤维丝、工业用单丝、生物医用单丝、高性能复合单丝等领域的材料可靠性设计与失效分析提供参考。

案例四:三维机织复合材料界面强度研究

检测目标:

三维机织复合材料界面强度及短梁剪切性能。

测试方案:

利用µTS介观尺度原位加载系统,结合多尺度DIC技术和原位观测技术,对三维机织复合材料狗骨型薄片试样进行测试。在试验机上方安装图像采集系统进行细观尺度DIC测量,使用触发线实现试验机与采集系统的完全同步。

测试成果:

获得了试件完整的应力-应变曲线,清晰捕捉到以界面脱粘为核心的失效模式。细观尺度DIC分析显示纵向应变远大于横向应变和剪切应变,证明拉伸应变在试验中占主导地位。

应用价值:

为三维机织复合材料的面外力学性能及损伤机理研究提供了试验数据支撑。

案例五:异质结构铝基复合材料拉伸测试

检测目标:

异质结构铝基复合材料在拉伸加载下的界面力学行为。

测试方案:

通过µTS原位加载系统与DIC数字图像相关技术联用,对异质结构铝基复合材料进行拉伸测试,重点关注增强相与基体界面的微观力学行为。

测试成果:

实现了载荷控制、实时显微观测、全场应变计算与损伤事件标定的完整试验流程。

应用价值:

为异质结构复合材料的界面力学行为解析提供了新的技术手段。

案例六:电子芯片封装截面热变形分析

检测目标:

电子元器件芯片封装截面在热变形条件下的微尺度位移场。

测试方案:

采用µTS高精度加载系统配合DIC非接触全场变形测量系统,对芯片封装截面进行热变形条件下的微尺度位移场测量,通过DIC技术进行扫描电镜图像漂移校正。

测试成果:

直观展示了电子芯片金属层与聚合物层由于温度梯度引起的变形分布,DIC系统获得纳米级精度的全场应变测量值。

应用价值:

为芯片行业微尺度热力学可靠性评估提供了高精度数据支撑。


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