原位冷热台IHCS系列
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原位冷热台IHCS系列
IHCS系列原位冷热台,专用于样品变温测试的微型环境箱,同时满足光学、电学、力学等测试。产品采用液氮致冷、电阻加热或热电半导体冷热的方式实现温度变化,搭配SEM、OM、XRD、RAMAN、DIC等宏微观观测手段,可用于研究样品原位变温显微结构。
宽温域精确控温
温度范围-150~550℃,覆盖从低温到高温的宽温域测试需求。温度稳定性±0.2℃,温度分辨率0.1℃,确保变温过程中温度的精确控制与数据可靠性。
多种冷热方式
采用液氮致冷、电阻加热或热电半导体冷热的方式实现温度变化,用户可根据测试需求选择适合的控温方式。变温速度0~50℃/min可调,满足从慢速到快速变温的不同实验要求。
多模式观测兼容
可搭配SEM、OM、XRD、RAMAN、DIC等多种宏微观观测手段,在研究样品变温过程中的显微结构、物相变化、光学性能等方面提供原位测试能力。
部分技术参数
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 设备名称 | 原位冷热台 |
| 温度范围 | -150~550℃ |
| 温度稳定性 | ±0.2℃ |
| 温度分辨率 | 0.1℃ |
| 冷热方式 | 液氮制冷 / 电阻加热 |
| 变温速度 | 0~50℃/min |
| 温度传感器 | PT100 |
| 样品台尺寸 | 38×36×8mm |
| 外形尺寸 | 100×100×34mm |
| 净重 | 约3kg |
特征与好处
| 特征 | 好处 |
|---|---|
| 专用于样品变温测试的微型环境箱 | 在有限空间内实现精确温度控制,适配多种观测设备 |
| 同时满足光学、电学、力学等测试 | 一机多用,满足多学科交叉研究需求 |
| 温度范围-150~550℃ | 覆盖从低温到高温的宽温域测试需求 |
| 温度稳定性±0.2℃,分辨率0.1℃ | 确保变温过程中温度的精确控制与数据可靠性 |
| 变温速度0~50℃/min可调 | 满足从慢速到快速变温的不同实验要求 |
| 可搭配SEM、OM、XRD、RAMAN、DIC等多种观测手段 | 在研究样品变温过程中的显微结构、物相变化、光学性能等方面提供原位测试能力 |
| 样品台尺寸38×36×8mm | 适配多种尺寸样品的变温测试需求 |