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原位冷热台IHCS系列

专用于样品变温测试的微型环境箱,同时满足光学、电学、力学等测试
采用液氮致冷、电阻加热或热电半导体冷热的方式实现温度变化,搭配SEM、OM、XRD、RAMAN、DIC等宏微观观测手段
温度范围-150~550℃,温度稳定性±0.2℃,温度分辨率0.1℃,变温速度0~50℃/min
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原位冷热台IHCS系列

IHCS系列原位冷热台,专用于样品变温测试的微型环境箱,同时满足光学、电学、力学等测试。产品采用液氮致冷、电阻加热或热电半导体冷热的方式实现温度变化,搭配SEM、OM、XRD、RAMAN、DIC等宏微观观测手段,可用于研究样品原位变温显微结构。

宽温域精确控温

温度范围-150~550℃,覆盖从低温到高温的宽温域测试需求。温度稳定性±0.2℃,温度分辨率0.1℃,确保变温过程中温度的精确控制与数据可靠性。

多种冷热方式

采用液氮致冷、电阻加热或热电半导体冷热的方式实现温度变化,用户可根据测试需求选择适合的控温方式。变温速度0~50℃/min可调,满足从慢速到快速变温的不同实验要求。

多模式观测兼容

可搭配SEM、OM、XRD、RAMAN、DIC等多种宏微观观测手段,在研究样品变温过程中的显微结构、物相变化、光学性能等方面提供原位测试能力。

部分技术参数

项目规格
设备名称原位冷热台
温度范围-150~550℃
温度稳定性±0.2℃
温度分辨率0.1℃
冷热方式液氮制冷 / 电阻加热
变温速度0~50℃/min
温度传感器PT100
样品台尺寸38×36×8mm
外形尺寸100×100×34mm
净重约3kg

特征与好处

特征好处
专用于样品变温测试的微型环境箱在有限空间内实现精确温度控制,适配多种观测设备
同时满足光学、电学、力学等测试一机多用,满足多学科交叉研究需求
温度范围-150~550℃覆盖从低温到高温的宽温域测试需求
温度稳定性±0.2℃,分辨率0.1℃确保变温过程中温度的精确控制与数据可靠性
变温速度0~50℃/min可调满足从慢速到快速变温的不同实验要求
可搭配SEM、OM、XRD、RAMAN、DIC等多种观测手段在研究样品变温过程中的显微结构、物相变化、光学性能等方面提供原位测试能力
样品台尺寸38×36×8mm适配多种尺寸样品的变温测试需求


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