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μTS介观尺度测试系统——连接微观与宏观的力学测试解决方案
μTS介观尺度测试系统专为光学显微镜与DIC技术耦合设计,位移分辨率25nm,应变分辨率0.01%,适用于复合材料多尺度验证及微尺度试···
3D-DIC系统
3D-DIC系统能够实现被测对象的三维变形测量,克服了大旋转和大变形。可搭配原位力学测试系统使用,适用于金属、高分子、柔性电子···
原位单轴力学测试系统——IUMT系列
IUMT系列原位单轴力学测试系统,载荷最高5000N,变形分辨率0.1μm。可搭配DIC、视频引伸计、OM、XRD、AFM、Raman等多种测量技术,···
介观尺度测试系统——μTS
μTS介观尺度测试系统专为光学显微镜与DIC技术耦合设计,位移分辨率25nm,应变分辨率0.01%,适用于复合材料多尺度验证及微尺度试···
原位双轴力学测试系统——IBM系列
IBM系列原位双轴力学实验系统,可进行单轴及双轴/四轴比例、非比例加载,搭配DIC视频引伸计实现非接触式全场应变测量。载荷峰值3···
3D-DIC系统在材料三维全场变形测量中的应用
3D-DIC系统在金属、高分子、柔性电子等材料三维全场变形测量中的应用。基于双目立体视觉原理,克服大旋转和大变形,可搭配原位力···
原位单轴力学测试系统IUMT系列在多材料力学性能研究中的应用
IUMT系列原位单轴力学测试系统在金属、高分子、柔性电子等材料力学性能研究中的应用。可搭配DIC、视频引伸计、OM、XRD、AFM、Ram···
原位单轴力学测试系统IUMT系列
IUMT系列原位单轴力学测试系统,动态载荷5000N,载荷分辨率0.001N,行程80mm,变形分辨率0.1μm。可搭配DIC、视频引伸计、OM、XR···
µTS介观尺度测试系统
µTS介观尺度测试系统专为光学显微镜与DIC技术耦合设计,位移分辨率25nm,应变分辨率0.01%,适用于复合材料多尺度验证及微尺度试···
µTS介观尺度测试系统在材料多尺度力学研究中的应用案例
µTS介观尺度测试系统在复合材料多尺度验证,微尺度试样测试等领域的应用案例,位移分辨率25nm,应变分辨率0.01%
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